深圳市美程精密仪器有限公司|电镀层测厚仪|XRF测厚仪|手持式光谱仪|ROHS仪器|ROHS2.0检测仪

以技术为先导

以质量为基础

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仪器

设备

instrument equipment

K-1688经济型合金分析仪

X射线/表面分析

市场价:￥0.00

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现场无损，快速，准确分析检测合金元素和合金牌号的识别；快速分析从钛（Ti）到铀 (U)之间的二十五种以上元素的含量。
K-500手持式土壤重金属分析仪

X射线/表面分析

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科迈斯KMX手持式土壤重金属分析仪k-500 由于更快的分析速度和更高的检测精度，加上外形更加小巧，便携，在样件准备方面几乎没有什么要求，因此成为一款用于现场筛查大面积场地和分析袋装土壤、沉积物、岩芯、流体、尘扫物质、表面与过滤器等样品的理想工具。快速普查超大范围的土壤污染区，绘制污染图、实施勘查，对土壤重金属元素能快速的现场原位分析，快速筛选排查；K-500土壤重金属检测仪可对土壤类样品中镉（Cd）、汞(Hg)、铅（Pb）、砷（As）、铬（Cr）、镍（Ni）、铜（Cu）、锌（Zn）等重金属元素进行精确检测，扩展至锰(Mn)、钛（Ti）、钡(Ba）、铷（Rb）、锶（Sr）、锆（Zr）、铁（Fe）等元素的检测。K-500采用美国Moxtek Si-pin探测器或德国KETEK高性能SDD，让客户有更多的配置选择。
K-800手持式合金分析仪

X射线/表面分析

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K-800是一款科迈斯KMX标准配置型号仪器，主要用于现场无损，快速，准确分析检测合金元素和合金牌号的识别。快速分析从镁（Mg）到铀(U)之间的二十五种以上元素的含量。仪器采用一键式防呆操作，去除复杂的操作选项，有效防止人为误操作。特点：一键开关机操作、无需多余动作;自动校准仪器，无需手动操作；45秒开机到测试0.8秒出牌号和数据；一键式样品检测功能，软件自动定时锁、自动停止测试功能；判断测试窗前无样品时2秒内自动关闭X射线。
K-600便携式矿石分析仪

X射线/表面分析

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K-600便携式矿石分析仪非常坚固耐用，可以在极为恶劣的环境中完成分析要求极高的应用。符合IP 65*评级标准，具有防尘防水的性能，通过了防坠落测试，可以在-10 °C到80 °C的温度范围内可以正常工作。科迈斯KMX k-600分析仪可进行快速精确的元素分析。每台设备都应用了科迈斯新开发的KMX技术，这种技术是XRF信号处理方面的一项革新，可提供精确无误、重复性极高的结果，从而使用户获得更高的生产力，并快速得到投资回报。
K-700 手持式ROHS分析仪

X射线/表面分析

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科迈斯手持式K-700 RoHS和消费者安全分析仪可对产品和部件进行快速筛查，以对产品符合CPSIA、RoHS、WEEE、EN71-3及其它法规的情况进行监管
XAD光谱分析仪 SDD探测器上照式X射线荧光光谱仪

X射线/表面分析

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<span style="color: rgb(94, 115, 135); font-family: "Segoe UI", "Lucida Grande", Helvetica, Arial, "Microsoft YaHei", FreeSans, Arimo, "Droid Sans", "wenquanyi micro hei", "Hiragino Sans GB", "Hiragino Sans GB W3", Roboto, Arial, sans-serif; font-size: 14px; background-color: rgb(255, 255, 255);">XAD系列荧光光谱仪是一款全元素上照式光谱仪，可测量纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件的膜厚，也可满足微区RoHS检测及多元素成分分析，先进的算法及解谱技术解决了诸多业界难题。    性能优势：    1. 微小样品检测：最小测量面积0.0085mm²    2. 变焦装置算法：可改变测量距离
XAU-4CS光谱分析仪 SDD探测器

X射线/表面分析

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性<span style="color: rgb(94, 115, 135); font-family: "Segoe UI", "Lucida Grande", Helvetica, Arial, "Microsoft YaHei", FreeSans, Arimo, "Droid Sans", "wenquanyi micro hei", "Hiragino Sans GB", "Hiragino Sans GB W3", Roboto, Arial, sans-serif; font-size: 14px; background-color: rgb(255, 255, 255);">能优势：1.微小样品检测：最小测量面积0.03mm²（加长测量时间可小至0.01mm²）2.变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm3.独创的EFP算法：Li(3)-U(92)元素的涂镀层，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也可精准测量。   4.先进的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限。   5.高性能探测器：SDD高分辨率探测器
XTD镀层测厚仪上照式X射线荧光光谱膜厚仪

X射线/表面分析

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<span style="color: rgb(94, 115, 135); font-family: "Segoe UI", "Lucida Grande", Helvetica, Arial, "Microsoft YaHei", FreeSans, Arimo, "Droid Sans", "wenquanyi micro hei", "Hiragino Sans GB", "Hiragino Sans GB W3", Roboto, Arial, sans-serif; font-size: 14px; background-color: rgb(255, 255, 255);">XTD系列测厚仪，专业表面处理检测解决方案：    XTD系列测厚仪，专用于检测各种异形件，特别是五金类模具、卫浴产品、线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析。
XTU-50A 电镀层测厚仪

X射线/表面分析

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